利用衍射进行材料分析--Muad
软件介绍
MAUD是一款免费软件，使用组合 Rietveld 方法分析衍射数据。其功能不仅限于衍射，还包括荧光和反射率。
它可以分析来自 X 射线源以及中子、TOF 和 TEM 电子的数据。相含量和晶体结构、微观结构特征（如尺寸和应变）、晶体结构和平面缺陷。它也适用于非晶态或纳米材料。
可以使用 X 射线、中子或电子数据、衍射、反射率或荧光。
软件下载
https://pan.quark.cn/s/647a7cababad
安装教程
1、双击运行自解压文件
2、点击解压（解压码后台回复密码免费获取）
3、进入解压后的文件
4、进入第二个文件
5、双井运行maud.bat
6、软件安装完成
解压密码
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