《电子元器件的可靠性》——第3章可靠性试验
本节书摘来自华章社区《电子元器件的可靠性》一书中的第3章可靠性试验，作者王守国，更多章节内容可以访问云栖社区“华章社区”公众号查看
第3章
可靠性试验
可靠性试验是可靠性工程的一个基本环节，通过可靠性试验不仅可以了解产品的各项可靠性指标，进行产品质量的鉴定和比较，还可以通过试验来分析产品失效的各种原因，找出改进措施，提高产品质量。同时，根据所得电子元器件可靠性数据为电子设备或系统的可靠性设计提供重要依据。
所谓可靠性试验，从广义上讲，凡是与可靠性有关的试验都属于可靠性试验。也就是说，为提高产品可靠性而进行的有关产品的失效及其效应的试验统称为可靠性试验。这里所指的可靠性试验是对受试样品施加一定的应力（对电子元器件产品功能有影响的各种外界因素在可靠性术语中称为应力），在这些应力（指电的、机械的、环境的）作用下，使受试样品反映出性能的变化，从而判断产品是否失效的试验。简要地说，为评价分析产品的可靠性而进行的试验，指的是成品的可靠性试验。
可靠性试验应贯穿产品的研制、设计、制造和使用的各个阶段，只是各个阶段试验的目的不同，其内容不同而已。
可靠性试验与电子材料及元器件的例行试验是不同的。例行试验的目的只是保证产品在出厂验收时，判定其性能参数是否符合出厂指标，也就是判定产品合格或不合格。一般来说，它可以直按用仪器进行测试来确定。而可靠性试验是要用统计方法进行定量分析，从而得出可靠特性指标，其不能直接用仪器进行度量来确定。而且，二者在应力等级的选取，施加应力的方法等方面均不同，这些是两个范畴的问题。因此，可靠性试验和例行试验是两个不同的概念，两种不同的试验方法，彼此之间不能相互取代。
本章讲述可靠性试验的分类、抽样理论及方法、筛选试验、失效分布类型的检验、寿命试验的理论和数据处理等，最后给出对电子元器件分级的可靠性鉴定试验。