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半导体中的杂质和缺陷能级

实际晶体:

1. 晶体中的原子不是禁止的,而是在平衡位置做振动

2. 实际半导体并不纯净,而是或多或少含有若干杂质

3. 实际晶体并非完美,存在点缺陷,线缺陷,面缺陷

我们要把这些因素引入到半导体中来


1.硅和锗中的杂质能级

原因:

1. 原材料的纯度不够

2. 在器件与电路制造过程中引入的沾污

3.为了控制半导体材料的性能,人为引入的

引入的第一个方式,杂质的存在方式?

1. 替位式杂质和间隙式杂质

三五族元素在硅和锗重是替位元素,这是金刚石原子的原子密度\frac{8}{a^3}

2r=\frac{1}{4} \sqrt{3} a,一个金刚石结构的晶胞里面,如果把原子放大的话,这八个球占立方晶胞达到34%

杂质还可以位于这些空的间隙位置,通常要求个头比较小

杂质浓度的概念:单位体积中杂质原子的个数,单位(cm^{-3})反映了,杂质含量的多少

2.施主杂质和施主能级

我们已Si重掺入五族元素,硅重掺入磷为例,Si是典型的共价晶体,与周围的形成饱和的共价键

 磷是五族元素,1. 其中四个价电子可以与周围四个硅原子形成饱和共价键,那这样的话就多了一个价电子,2. 多了一个价电子,磷原子所在处多一个正电荷

和本征情况比一比,硅重掺入了磷之后,产生的差别:

1.产生了一个多余的价电子,一个正电中心P^+,所以和不掺的情况对比起来看,多余的价电子是现在还不是自由的,正负电荷之间有库伦引力,被正电中心P^+离子所束缚,大家看在这样的示意图里面,横线表示共价键,这些电子也是被共价键所束缚,多余的电子被中心正离子束缚,这两种束缚不一样,电子挣脱共价键最低是禁带宽度,而挣脱库伦引力的能量,则是远小于共价键的束缚

很小的能量\Delta E_D就可以让它挣脱束缚,挣脱了束缚的电子就成了所谓的自由电子(做共有化运动),正电中心P离子被四个共价键束缚,所以不能自由运动

多余的电子挣脱束缚,就相当于电离了

杂质电离:电子挣脱杂质原子的束缚,称为导电电子的过程

杂质电离能: 使电子挣脱杂质原子的束缚,成为导电电子所需要的能量 成为杂质电离能,记作\Delta E_D,又称为施主杂质电离能

这么说相当于五族元素可以释放出电子,所以我们把五族元素称为施主元素,称作donor

那么施主杂质的电离能这个☞远弱于共价键的束缚,我们关心这个值有多大?

\Delta E_D值,如果五族元素掺入锗重,大多比较接近在0.01ev左右,如果掺入硅中的话,大约是0.04~0.05ev左右

Si中掺入磷,磷在硅中的电离能0.044电子伏特,这个值远远小于禁带宽度(因为都是向导带提供电子,所以要和禁带宽度比)

施主电离并不会产生多余的空穴,这是与本征激发的一个区别

五族元素释放电子的过程,称为施主电离,施主杂质未电离的时候,是电中性的,电离以后,成为正电中心,分别称为中性态(束缚态)施主离化态

从能带结构上来看

 

如果掺入施主以后,多余的电子就变成了导电电子,导电电子在导带底附近,E_D这是施主杂质多于电子被束缚时候的能量状态,我们称之为施主能级,通常情况下掺杂浓度比较低

单位体积中掺杂浓度低,杂质含量较少

展宽成能带要相互靠拢,杂质原子相距较远,所以形成了一些相同能量的孤立能级而不是能带

Si中掺入磷以后,相当于就是在原来的基础上引入施主能级,所以\Delta E_D,半导体中掺入五族元素后,称主要依靠电子导电的半导体为N-型半导体

3.受主杂质 受主能级

B在硅中的替位式杂质,B在硅中是替位杂质,我们就会缺少一个价电子,为了形成四个饱和的共价键,他会从其他地方获得一个电子,使它自身形成饱和共价键,这样子就变成了负电中心,这就是Si中掺入三族元素B的情况

Si中掺入B效果上看,形成了一个负电中心B^-形成一个多余的空穴,多余的空穴也是被负电中心B^-所束缚住,被束缚住,就不能自由运动,就不能导电,这种束缚演员弱于共价键的束缚

也就是说我们只要很小的能量\Delta E_A就可以让它挣脱束缚,称为导电空穴

负电中心是不能运动的,如果掺入三族元素的话,缺少电子,就可以束缚空穴,导电空穴增加了,但是电子并没有增加

受主杂质未电离的时候是电中性的,电离以后,称为负电中心,称为受主离化态,空穴挣脱束缚的过程称为受主电离,空穴挣脱受主杂质的束缚所需要的能量,这个称为受主杂质电离能,记作\Delta E_A

受主杂质电离能\Delta E_A,在Ge中大约是0.01ev,在硅当中大约是0.045~0.065ev之间,但是大家特别注意要把铟除外,铟在Si中的受主杂质电离能是0.16ev(非常大,大带来的问题是不容易电离)

 

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